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题型:单选题 题类: 难易度:普通

浙江省杭州市第二中学东河校区2023-2024学年高二上学期期中物理试题

在半导体工艺里经常需要测定金属薄膜厚度,目前采用的方式是通过测定电阻而间接测得薄膜厚度,查询资料获知构成该薄膜金属材料的电阻率 , 取一块厚度均匀、边长为L的正方形该金属薄膜,在薄膜两端施加恒定电压U0通过薄膜的电流方向如图所示,测定出流过薄膜的电流I,即可推导出薄膜厚度d,则(  )

A、电流I越大,则薄膜厚度d越小 B、电流I越大,则薄膜厚度d越大 C、正方形边长L越大,所测定的电阻值越大 D、正方形边长L改变,所测定的电阻值越小
举一反三
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